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商品類型:QUASAR-S系列
上架時間:2024-03-14
產品描述:應用于集成電路芯片制造生產線上的光學膜厚測量設備,適用于6、8、12時生產線,產品技術成熟,測量精度高,測量速度快,技術上已達到國際同類競爭產品水平實現納米級厚度測量。
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應用于集成電路芯片制造生產線上的光學膜厚測量設備,適用于6、8、12時生產線,產品技術成熟,測量精度高,測量速度快,技術上已達到國際同類競爭產品水平實現納米級厚度測量。